接觸式IC卡IC卡的測(cè)試

文章出處：http://www.sgrivertours.com 作者：楊新濤（副研究員） 人氣： 發(fā)表時(shí)間：2007年10月01日

IC卡直流參數(shù)的測(cè)試

IC卡直流參數(shù)的好壞是衡量IC卡質(zhì)量好不很重要的指標(biāo)。如一片IC卡其它各項(xiàng)功能、參數(shù)都正常，只是IC。（靜態(tài)工作電流）偏大，這時(shí)這片IC卡雖然還可以使用，但內(nèi)部制造上一定存在著隱患，可能使用壽命會(huì)很短、也可能會(huì)忽好忽壞。輸人高低電平、輸出高低電平以及電源拉偏的不合格則是造成某些IC卡在一些POS機(jī)上能使用，而在另一些POS機(jī)上不能使用的主要原因。

通常測(cè)試設(shè)備給IC卡上電后首先要對(duì)IC卡作靜態(tài)工作電流及輸人端的輸人電流測(cè)試，這兩項(xiàng)測(cè)試同時(shí)兼有測(cè)試設(shè)備的自保護(hù)作用，因?yàn)槿绻鸌C卡的靜態(tài)工作電流或輸人端的輸人電流太大，長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試容易造成測(cè)試設(shè)備中的器件電源或功能測(cè)試電路的損壞。

靜態(tài)工作電流及輸人端的輸人電流的測(cè)試都是由測(cè)試設(shè)備中的直流參數(shù)測(cè)量單元（也叫精密測(cè)量單元、PMU）來完在。PMU給IC卡的電源端及各個(gè)輸人端施加一定的電壓，然后測(cè)量其電流，再與給定的值作比較，如在給定的范圍之內(nèi)則說明IC卡的這幾項(xiàng)參數(shù)合格，否則為不合格。

輸人高電平（VIH）、輸入低電平（VIL）、輸出高電平（VOH）及輸出低電平（VOL）的測(cè)試與功能測(cè)試同時(shí)進(jìn)行。在起動(dòng)功能測(cè)試之前，先設(shè)好驅(qū)動(dòng)電平VIH、VIL、及比較電平VOH、VOL的值，如大部分 IC卡在 SVI作電壓的是 VIH為 3． SV、 VIL為 0． SV； VOL在 imAl作電流時(shí)為 0．4V，由于絕大部分IC卡都是 OC門輸出，所以 VOH由電源工作電壓決定，通常設(shè)為3．5V即可。輸入高低驅(qū)動(dòng)電平、輸出高低比較電平設(shè)好以后，起動(dòng)功能測(cè)試后，在作功能測(cè)試時(shí)施加到被測(cè)IC卡輸人端的邏輯高電平即為給定的VIH、邏輯低電平即為給定的 VIL，如 3．5／O．8V；檢測(cè)IC卡輸出端的輸出時(shí)，對(duì)IC卡的輸出同時(shí)作邏輯比較及電平比較，看輸出高 時(shí)是否大于VIH、輸出低時(shí)是否小于VIL。如輸出高時(shí)是否大于3．5V、輸出低時(shí)是否小于 0． 4V。 輸出低時(shí)的驅(qū)動(dòng)電流通常是在功能測(cè)試以后進(jìn)行，因?yàn)橹挥泄δ苷２拍鼙ＷC在某一給定的輸人下輸出端為低電平。

輸出低時(shí)的驅(qū)動(dòng)電流的測(cè)試也由測(cè)試設(shè)備中的直流參數(shù)測(cè)量單元（PMU）來完成。先在IC卡的輸人端施加一定的信號(hào)使輸出端處于輸出低狀態(tài)，然后用PMU給輸出端施加一給定的電流，檢測(cè)其電壓，與給定的值作比較，如在給定的范圍內(nèi)則說明IC卡這項(xiàng)參數(shù)合格。

IC卡功能的測(cè)試

功能測(cè)試就是驗(yàn)證IC卡的各項(xiàng)功能是否正確。通常又分為常用工作電壓下的測(cè)試（